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X射线荧光镀层测厚仪对温湿度有没有要求
发布时间:2022-05-06   点击次数:231次
  X射线荧光镀层测厚仪可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。滤光片程控交换系统根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口。
 
  荧光强度是元素原子序数的函数,如果表面覆盖层、中间覆盖层(如果存在)以及基体是由不同元素组成或一个覆盖层由不止一个元素组成,则这些元素会产生各自的辐射特征。可调节适当的检测器系统以选择一个或多个能带,使此设备既能测量表面覆盖层又能同时测量表面覆盖层和一些中间覆盖层的厚度和组成。
 
  X射线荧光镀层测厚仪温湿度要求
 
  1.正常工作的温度范围温度范围为18-25℃。要求室温比较稳定。
 
  2.相对湿度小于98%,无冷凝,40-60%之间,一般都能正常工作。
 
  3.如湿度比较大,而且仪器需要关机较长时间,建议再开机时先打开仪器电源,但不要立即进入软件,等机内湿气排除后再进入软件。
 
  X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术,该技术已经被证实并且得到广泛应用,可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体,元素范a围包括从元素周期表中的Ti22到U92,并且具有不同大小的样品舱。

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