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  • 扫描探针显微镜(SPM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。悬臂和样品始终保持接触,控制悬臂与样品之间的相互作用保持一定状态下,扫描样品表面的模式。这是Z典型的AFM模式,可以得到目前Z高分辨率图像。悬臂在谐振频率附近震动。在悬臂震动的状态下悬臂接近样品时振幅会发生变化。
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