和伍超声扫描显微镜 设备整机尺寸750mm（长）×700mm（宽）×1350mm（高）。安装方案基于空间占用最小化和维护/服务条件需要，保证在设备周围留有500mm的空间，可以方便工作人员进行操作、维护。

和伍水浸超声扫描显微镜 超声扫描显微镜（SAT）是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可有效满足新能源、半导体、电力电子、热管理材料、金刚石复合材料、碳纤维复合材料等行业需求。

日本电子热场发射扫描电子显微镜 适用于纳米材料、化学、新材料、半导体器件的观察和分析。

日本电子扫描电镜 日本JEOL扫描电子显微镜JSM-IT200 InTouchScope JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。

日本电子扫描电子显微镜 JCM-700强大的“Zeromag“功能，让您从光学显微镜的观察方式，轻松的无缝接轨到扫描电镜的影像观察。“Live Analysis“则实现了SEM影像观察时实时的EDS成份分析。

扫描探针显微镜（SPM）是在样品表面用微小的探针进行扫描，通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。悬臂和样品始终保持接触，控制悬臂与样品之间的相互作用保持一定状态下，扫描样品表面的模式。这是Z典型的AFM模式，可以得到目前Z高分辨率图像。悬臂在谐振频率附近震动。在悬臂震动的状态下悬臂接近样品时振幅会发生变化。