X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720：Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界*。 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

X射线荧光镀层测厚仪测量元素范围：钛Ti22---铀U92； 测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线； 测量精度高、稳定性好，测量结果*确至μin； 快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果； 可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析； 进行贵金属检测。

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TREK重锤式表面电阻测试仪 无损检测仪 Trek-152-1 表面电阻测试仪是用来测量各种传导、损耗、绝缘的面电阻

X射线荧光镀层测厚仪品牌：本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量，Ux-700更专业小样品测试腔的设计，带有聚焦光点的准直器，高分辨率的探测系统，众多Z佳条件的选择，保证测试结果的准确性。X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

菲希尔膜厚仪磁性涡流两用型涂镀层测厚仪 新款DUALSCOPE MPO涂镀层测厚仪采用广受承认的Fischer探头技术，是较为小巧并能满足您测量需要的仪器。它测量精度高、界面友好且结实耐用。对不复杂工件的现场测量尤为理想。内置探头，由磁感应及电涡流方法，可快速无损地测量涂镀层厚度。