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  • X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720:Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界*。 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
  • X射线荧光镀层测厚仪测量元素范围:钛Ti22---铀U92; 测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线; 测量精度高、稳定性好,测量结果*确至μin; 快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果; 可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析; 进行贵金属检测。
  • X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720:Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
  • TREK重锤式表面电阻测试仪 无损检测仪 Trek-152-1 表面电阻测试仪是用来测量各种传导、损耗、绝缘的面电阻
  • X射线荧光镀层测厚仪品牌:本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量,Ux-700更专业小样品测试腔的设计,带有聚焦光点的准直器,高分辨率的探测系统,众多Z佳条件的选择,保证测试结果的准确性。X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
  • 菲希尔膜厚仪磁性涡流两用型涂镀层测厚仪 新款DUALSCOPE MPO涂镀层测厚仪采用广受承认的Fischer探头技术,是较为小巧并能满足您测量需要的仪器。它测量精度高、界面友好且结实耐用。对不复杂工件的现场测量尤为理想。内置探头,由磁感应及电涡流方法,可快速无损地测量涂镀层厚度。
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