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一文解析X射线荧光镀层测厚仪的工作原理
更新时间:2024-05-24   点击次数:330次
  X射线荧光镀层测厚仪是一种常用于材料表面分析的非破坏性检测设备,可用于测量各种金属、合金、陶瓷和涂层材料的厚度及成分。其工作原理基于X射线与物质的相互作用,下面将对其进行详细介绍。
 
  X射线荧光镀层测厚仪的工作原理:
  对被测样品发射一束一次X射线,样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度,X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
 

X射线荧光镀层测厚仪

 

  X射线荧光镀层测厚仪的工作特点:
  1、测量元素范围:钛Ti22---铀U92;
  2、测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;
  3、测量精度高、稳定性好,测量结果*确至μin;
  4、快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;
  5、可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;
  6、进行贵金属检测,如Aukarat评价;
  7、材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;
  8、强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、*大值、*小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图;
  9、结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等;
  10、测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;
  11、激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦。
 

X射线荧光镀层测厚仪

 

  总之,X射线荧光镀层测厚仪利用了X射线与物质的相互作用原理进行非破坏性检测。它可以用于测量各种金属、合金、陶瓷和涂层材料的厚度及成分,并且在许多应用领域中都具有广泛的用途。

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