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X-strata 920牛津X射线荧光镀层测厚仪的原理及特点
发布时间:2016-11-14   点击次数:472次
  X-strata 920牛津X射线荧光镀层测厚仪主要包括测试主机、标准组件、及液晶显示器等部件,其采用X射线反射原理对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。X-strata 920牛津X射线荧光镀层测厚仪可以对被测样品发射一束一次X射线,样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度,X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
 
  X-strata 920牛津X射线荧光镀层测厚仪的主要特点有:1、可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。2、可通过机头来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,在避免直接接触或破坏被测物的镀层的情况下对镀层厚度和成分进行测量和分析。
 
  X-strata 920牛津X射线荧光镀层测厚仪在电子行业、五金电镀行业以及其他行业中都有着广泛的应用。

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