华高仪器于2025年10月17日发布了文章【日本电子 sem 电镜 JCM-7000：多模式成像】。作为在仪器设备行业服务了多年的经销商，华高仪器有着专业的仪器销售团队以及售后服务人员，在采购前期能给客户一套专业完善的采购方案以及及时响应的售后服务。

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在微观观测与分析领域，扫描电子显微镜（SEM）凭借能获取不同于光学显微镜的信息，成为诸多行业研究与生产中的重要工具。日本电子推出的 sem 电镜 JCM-7000，凭借多样的性能与实用的功能，在扫描电子显微镜领域占据一席之地，为不同场景下的微观分析需求提供支持。

仪器性能参数：精准呈现微观世界

JCM-7000 在图像倍率方面，以 128mm×96mm 作为显示尺寸规定放大倍率时，范围可达 ×10～100,000；若以 280mm×210mm 作为显示尺寸规定显示倍率，范围则为 ×24～202,168，能满足不同微观尺度的观测需求。

图像模式上，该仪器分为高真空和低真空两种模式。高真空模式下，可获取二次电子像、背散射电子像（包含成分像、凹凸像、阴影像）以及 3D 图像；低真空模式则支持背散射电子像（成分像、凹凸像、阴影像）与 3D 图像的获取，丰富的图像模式可适配不同样品的观测要求。

加速电压提供 5kV、10kV、15kV 三档切换选项，操作人员可根据样品特性与观测目标选择合适电压。电子枪采用钨灯丝与韦氏帽一体化微栅设计，为仪器稳定运行提供保障。

样品台方面，配备 X-Y 马达驱动样品台，X 轴和 Y 轴行程均为 40mm，最大可放置直径 80mm、高度 50mm 的样品，且采用拉出式样品台设计，便于样品交换。像素数支持 640×480、1,280×960、2,560×1,920、5120×3,840 多种规格，可根据观测清晰度需求选择。抽真空系统采用自动控制方式，配备 1 台 TMP（涡轮分子泵）和 1 台 RP（旋转泵），保障仪器真空环境稳定。

仪器特点：实用设计提升操作体验

JCM-7000 支持在高真空和低真空两种环境下进行测试，无需频繁调整真空条件，可应对更多类型样品的分析，尤其是对易挥发、易氧化样品的观测更具优势。

操作方式灵活，既可以使用触摸屏，也能通过鼠标操作，满足不同操作人员的使用习惯。同时，仪器具备不需要清洁灯丝的一触式交流功能，减少操作步骤，降低维护难度。

视野更大，结合 3D 图像模式，可实现三维观察，让操作人员更直观地了解样品的立体结构。界面支持日文、英文切换，方便不同语言背景的用户使用。

XY 自动样品台除了能在 X、Y 轴方向运动外，还可在四个方向上斜向运动，搭配图形导航功能，进一步简化操作流程，便于快速定位观测区域。

自动功能与分析能力：助力高效微观分析

仪器搭载多项自动功能，包括对中调整，以及聚焦、像散、衬度 / 亮度调整，减少人工操作带来的差异，保障图像质量的稳定性与一致性。

测长功能可实现两点间距离测量、角度测量以及线宽测量，为微观尺寸的精确把控提供支持。在元素分析方面，该仪器具备定性分析、定量分析、点分析、线分析以及元素面分布分析能力，能深入探究样品的元素组成与分布情况，为材料研究、质量检测等工作提供数据支撑。

文件格式支持 BMP、TIFF、JPEG、PNG 多种常见格式，便于观测图像的保存、传输与后续处理。仪器操作系统采用 Microsoft® Windows® 10，搭配 24 英寸触摸屏，操作界面熟悉且显示清晰，提升整体使用体验。

主要选配件：拓展仪器功能边界

为进一步提升仪器的实用性与适用范围，JCM-7000 提供多种选配件。其中，倾斜旋转马达驱动样品座，倾斜角度范围为 - 10°～+45°，旋转可实现 360° 转动，便于从不同角度观测样品细节；样品台导航系统能辅助操作人员更精准、快速地定位样品观测位置；能谱仪（EDS）的配备则可增强仪器对样品元素的分析能力，为更深入的微观分析提供助力。

日本电子 sem 电镜 JCM-7000 凭借丰富的性能参数、实用的仪器特点、多样的自动功能与分析能力，以及可拓展的选配件，在扫描电子显微镜领域展现出较强的适用性，能够满足科研、工业检测等多个领域的微观分析需求，为相关行业的发展提供技术支持。

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