华高仪器于2025年09月25日发布了文章【牛津 X-Strata920 系列：镀层检测实用之选】。

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在镀层厚度测量与材料成分分析领域，牛津品牌的 X-Strata920 系列镀层测厚仪凭借均衡的性能与实用的功能，成为众多行业检测工作的重要工具。该系列仪器遵循非破坏、非接触的检测原则，可实现多合金测量，覆盖较广的元素范围，同时在测量结果一致性与检测效率方面表现稳定，能够帮助企业把控产品质量，合理控制电镀环节的成本投入。

一、核心工作特点与检测能力

X-Strata920 系列镀层测厚仪在实际应用中展现出多方面实用特性，满足不同场景下的检测需求：

测量精度与效率：仪器测量结果可细化至 μin 级别，稳定性较好；采用快速检测模式，10 秒内即可得出测量结果，减少等待时间。

分析模式多样：支持定性、半定量及定量三种分析模式，不仅能完成镀层厚度检测，还可进行贵金属检测（如 Au karat 评价）、材料鉴别与分类，以及材料和合金元素的光谱定性分析。

数据处理与输出：具备全面的数据统计功能，可计算平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK 等参数，并生成控制上限图、控制下限图、数据分组、X-bar/R 图表、直方图；结果输出方式灵活，可直接打印，或一键导出至 PDF、Excel 文件（Excel 导出为选配），报告中可包含数据、图像、统计图表、客户信息等内容，且支持自定义报告模板。

样品观察与对焦：配备高分辨率彩色 CCD 样品观察系统，标准光学放大倍数为 30 倍，还可选择 50 倍放大规格，同时支持数字 200% 放大；具备测量位置预览功能，以及激光对焦和自动对焦功能，单击鼠标即可触发 Z 轴自动扫描与镭射聚焦，方便精准定位检测位置。

二、技术参数与硬件配置

1. 基础技术与测量范围

测量元素范围：覆盖 Ti²²（钛）至 U⁹²（铀）之间的元素。

镀层与成分分析能力：镀层最多可同时测定 5 层（包含 4 层镀层与 1 层基体材料）；成分最多可同时测量 25 种元素。

测量方法：采用 SmartLink™FP（基本参数法），仪器预装超过 800 种应用参数 / 方法，建立应用仅需简单直观的步骤。

工作原理：对被测样品发射一次 X 射线，样品原子吸收能量后被激发并释放二次 X 射线，不同化学元素释放的 X 射线能量具有特异性，通过测量二次 X 射线的特征能量与强度，实现对镀层厚度和材料成份的定性、定量分析。

2. X 射线激发与探测系统

X 射线激发：输出规格为 50kV、1.0mA（50W），搭配空冷式微聚焦铑 X 射线管与 Be 窗；采用垂直下照式 X 射线光学系统，配备安全防射线光闸；设有二次滤波组件，可选择三个程控交换的滤波器，用于修正 X 射线重叠谱问题。

探测器：采用正比例计数器，保障对二次 X 射线信号的稳定接收与转换。

3. 样品台规格（按型号区分）

X-Strata920 系列包含四种型号，不同型号样品台规格存在差异，可适配不同场景需求：

P920 - S：属于固定台类型，样品高度限制为≤33mm。

P920 - MWS：为半自动类型，采用单准直器加深台设计；样品仓为抽屉式结构，内部尺寸为 279×508×152mm，设有 4 个上下可调的位置，每格高度为 25.4mm；同时支持自定义样品台，可满足样品高度 > 160mm 的测量需求，样品高度限制为≤160mm。

P920 - MWM：同样为半自动类型，采用多准直器加深台设计，样品仓相关设计与 P920 - MWS 一致，样品高度限制也为≤160mm。

P920 - AM：为自动台类型，X-Y 轴行程为 178×178mm，样品台尺寸为 610×560mm；支持自动送样与无人自动测量，可对样品进行编程，实现自动多点测试与重复测试，还能通过鼠标控制样品台精确定位样品，样品高度限制为≤33mm。

4. 准直器规格

仪器支持单准直器、多准直器选择，多准直器可程控交换，同时提供圆形、矩形两种形状的准直器：

圆形准直器：可选规格包括 Φ0.1、Φ0.15、Φ0.2、Φ0.3、Φ0.33、Φ0.5mm。

矩形准直器：可选规格包括 0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.105x0.254、0.102x0.406mm。

标配情况：单准直器标配为 Φ0.3mm；双准直器标配为 Φ0.1、Φ0.3mm；四准直器标配为 Φ0.15、Φ0.3、0.05x0.05、0.051x0.254mm。

5. 计算机与成像系统

计算机系统：搭载 Intel Core i3 - 3240 3.40GHz 处理器，配备 2G 内存、500G 硬盘与 DVD 光驱，搭配 17 吋液晶彩色显示器，预装 Microsoft™ Win7 32bit 操作系统。

成像系统：采用彩色视频系统，支持实时显示被测样品图像，光学放大倍数为 30 倍（可选 50 倍），支持数字 200% 放大，配合激光自动对焦功能，提升样品观察清晰度。

6. 仪器外形尺寸

P920 - S、P920 - MWS、P920 - MWM：宽 × 深 × 高为 407×770×305mm。

P920 - AM：宽 × 深 × 高为 610×1037×375mm。

7. Z 轴控制

采用鼠标控制方式，程控移动距离为 43mm，操作便捷且定位精准。

三、安全设计与应用领域

1. 全面的安全保障

为确保操作过程安全，仪器配备多重安全设计：

操作权限控制：具备自动锁定功能，防止未授权操作；简单用户界面仅向日常操作员开放有限授权，主管人员可进行系统维护，同时系统自动生成操作员使用记录。

硬件安全防护：设有 Z 轴保护传感器、安全防射线光闸、样品室门开闭传感器、X 射线锁、X 射线警示灯；配备紧急停止按钮、前面板安全钮与后面板安全锁，进一步降低操作风险。

2. 广泛的应用场景

X-Strata920 系列镀层测厚仪可适配多个行业的检测需求，包括 PCB（印制电路板）、FPC（柔性印制电路板）、LED、SMT（表面贴装技术）、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等领域，主要用于表面镀层厚度测量与材料分析，是各类电镀产品镀层检测的常用工具。

四、系列仪器的实用价值

牛津 X-Strata920 系列镀层测厚仪通过多样化的型号选择、全面的检测功能与稳定的性能表现，为不同行业企业提供适配的镀层检测解决方案。无论是小型企业的基础检测需求，还是大型生产线的批量检测场景，该系列仪器都能通过精准的测量数据帮助企业把控产品质量，减少因镀层厚度不合格导致的成本浪费，同时其便捷的操作与数据处理功能，也为检测工作简化流程、提升效率提供支持，成为镀层检测领域兼具实用性与性价比的选择。

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