华高仪器于 2025 年 08月 29 日发布了文章【岛津超声波光学探伤仪 MIV-X：近表面缺陷可视化检测新选择】。作为在仪器设备行业服务了多年的经销商，华高仪器有着专业的仪器销售团队以及售后服务人员，在采购前期能给客户一套专业完善的采购方案以及及时响应的售后服务。

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在材料检测领域，近表面及内部隐藏缺陷的识别一直是关键需求，传统检测方式常面临难以覆盖特定区域、操作复杂等问题。岛津推出的超声波光学探伤仪 MIV-X，依托光学成像技术，将超声波振子与频闪观测器相结合，为材料缺陷检测提供了新的思路，尤其在传统超声检测难以触及的领域展现出价值。

1. 核心技术：光学成像技术支撑

岛津超声波光学探伤仪 MIV-X 的核心优势源于其光学成像技术。该技术通过激励试样表面，再以光学方式检测表面位移，从而清晰观测超声波在试样表面的传播情况。具体来看，仪器在试样表面使用超声波振荡器产生振动，当超声波在材料内部传输时，表面产生的微小位移会通过激光照射与光学相机捕捉并实现可视化，工作人员可根据超声波传播的间断情况，定位材料内部的缺陷位置，让原本难以察觉的隐藏问题直观呈现。

2. 操作特性：简便易上手，降低检测门槛

不同于部分检测设备需要专业人员长时间学习操作，MIV-X 能让任何人快速、简单地执行视觉表面检查，大幅降低了检测操作的门槛。

操作流程简化：工作人员只需将超声波振荡器放置在样品上，随后调整相机位置，短时间内仪器就能显示出超声波的传输情况，从生成的视频中可轻松识别缺陷所在，无需复杂的前期准备步骤。

软件功能实用：仪器配套软件功能丰富且操作简单，不仅能实现缺陷标记，还支持尺寸测量等功能，进一步增强了检测过程中的数据记录与分析能力，满足检测过程中的基础功能需求。

可选配件支持：该系列仪器提供可选的光学变焦组，搭配使用后可对更小的缺陷进行检测，扩大了仪器在细微缺陷识别场景中的适用范围。

3. 与传统超声检测（UT）的差异：弥补检测盲区

在检测范围与侧重点上，MIV-X 与传统超声波检测（UT）形成有效互补，重点弥补了 UT 难以检测的区域，尤其擅长表面和近表面区域的缺陷检测。

传统超声检测在部分表面、近表面缺陷识别中存在局限，而 MIV-X 可将肉眼无法确认的裂缝、空隙、剥离等隐藏缺陷转化为可视化图像，让这些以往容易被忽略的问题得到清晰呈现，为材料检测提供更全面的视角。

4. 应用领域：覆盖多行业检测需求

凭借对近表面缺陷的识别能力，MIV-X 在多个行业的检测场景中都能发挥作用：

可使传统超声检测难以发现的内部缺陷（深度约 1mm）实现可视化，解决了部分材料内部浅层缺陷难以检测的问题。

在涉及多种材料的研发过程中，针对因组合不同材料以增加强度、减轻重量而产生的接头、粘合表面缺陷，能轻松完成检测，为多材料复合产品的研发与质量把控提供支持。

适用于不同材料的粘接剥落检测，以及油漆、热喷涂、涂层等表面覆盖层的缺陷检测，覆盖从基础材料到表面处理层的多维度检测需求。

岛津超声波光学探伤仪 MIV-X 通过技术、简便的操作与广泛的适用性，为材料缺陷检测提供了新的解决方案，尤其在近表面、细微缺陷识别场景中，为各行业的质量控制与研发工作提供了有力支持，推动材料检测朝着更直观、更全面的方向发展。

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