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技术支持

今日报道@超声扫描显微镜系列和伍超声探伤仪C400
更新时间:2023-05-09   点击次数:448次

 

据宣传部2023年5月9日报道,@超声扫描显微镜系列和伍超声探伤仪C400产品咨询,技术参数,购买指南!

此价格为诚意定购金,产品货期&价格请与客服咨询为准!谢谢!

产品概述:

超声扫描显微镜(SAT)是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备,主要利用高频超声波,对各类半导体器件、材料进行检测,能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷,并以图形的方式直观展示。在扫描过程中,不会对样品造成损伤,不会影响样品性能,可有效满足新能源、半导体、电力电子、热管理材料、金刚石复合材料、碳纤维复合材料等行业需求。

产品特点:

1、 具备A(点扫描)、B(纵向扫描)、C(横向扫描),Tray-托盘扫描等系列扫描模式。

2、 具备定量测分析功能,以图像方式直观显示被测件内部缺陷的位置、形状和大小,并进行缺陷的尺寸和面积统计,自动计算缺陷占所测量面积的百分比;具备缺陷尺寸标识;厚度与测距等功能。

3、 适用于单个器件的快速扫描分析,也可批量放置样品同步进行缺陷识别,快速筛选出不合格品。

4、 可兼容1~25MHz的超声探头。

5、 检测软件自主研发,中英文界面,可根据客户需求对功能进行持续升级。


 

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