x射线荧光镀层测厚仪是一款专业用于镀层厚度测量的仪器。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。但是由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引进了诸多测量误差，那么，x射线荧光镀层测厚仪的哪些测量误差是不可避免的呢？仪器设备引入的测量误差主要包括以下几方面：
 

　　1、器测量示值误差
 

　　2、仪器测量小分辨率
 

　　3、仪器使用的校准片
 

　　4、仪器对试样表面的不连续敏感，太靠近试样边缘或内转角处测量时，磁场将会发生变化，测量结果将不可靠。因此，不要在靠近不连续的部位如边缘、孔洞和内转角等处进行测量。
 

　　5、金属机械加工方向对材料的磁特性会产生较大影响，当使用双极式测头或被磨损而不平整的单极式测头测量时，测量结果会受到磁性基体金属机械加工(如轧制)方向的影响。因此，在试样上测量时应使测头的方向与在校准时该测头所取方向一致。
 

　　6、金属材料由于磨削等加工方式可能带来剩磁，影响仪器测量，试样测量前应进行消磁处理，并在互为180°的两个方向上进行测量。
 

　　7、基体金属曲率的变化将影响测量结果，曲率半径越小，对测量结果的影响越大。当测量曲率较小的试样时，应通过化学方法除去试样的局部覆盖层，利用试样的无膜部分作为基体对仪器校准。
 

　　8、基体金属表面粗糙度将影响测量结果，粗糙度程度增加，对测量结果的影响增大。应对试样基体多个位置进行零点校正，并在试样不同位置上进行多次测量，测量次数至少应增加到5次或以上，以减小影响。