返回首页 在线留言 联系我们

产品目录

联系方式

惠州市华高仪器设备有限公司
联系人:范志华
电话/传真:0752-7168848
地址:惠州市江北惠州大道9号佳兆业中心2座5层16号
邮编:516003
邮箱:1553572724@qq.com
首页 > 技术支持 > x射线荧光镀层测厚仪的测量误差一般表现在哪里

技术支持

x射线荧光镀层测厚仪的测量误差一般表现在哪里
发布时间:2018-12-08   点击次数:205次
x射线荧光镀层测厚仪是一款专业用于镀层厚度测量的仪器。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。但是由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引进了诸多测量误差,那么,x射线荧光镀层测厚仪的哪些测量误差是不可避免的呢?仪器设备引入的测量误差主要包括以下几方面:
1、器测量示值误差
2、仪器测量小分辨率
3、仪器使用的校准片
4、仪器对试样表面的不连续敏感,太靠近试样边缘或内转角处测量时,磁场将会发生变化,测量结果将不可靠。因此,不要在靠近不连续的部位如边缘、孔洞和内转角等处进行测量。
5、金属机械加工方向对材料的磁特性会产生较大影响,当使用双极式测头或被磨损而不平整的单极式测头测量时,测量结果会受到磁性基体金属机械加工(如轧制)方向的影响。因此,在试样上测量时应使测头的方向与在校准时该测头所取方向一致。
6、金属材料由于磨削等加工方式可能带来剩磁,影响仪器测量,试样测量前应进行消磁处理,并在互为180°的两个方向上进行测量。
7、基体金属曲率的变化将影响测量结果,曲率半径越小,对测量结果的影响越大。当测量曲率较小的试样时,应通过化学方法除去试样的局部覆盖层,利用试样的无膜部分作为基体对仪器校准。
8、基体金属表面粗糙度将影响测量结果,粗糙度程度增加,对测量结果的影响增大。应对试样基体多个位置进行零点校正,并在试样不同位置上进行多次测量,测量次数至少应增加到5次或以上,以减小影响。 

分享到:

返回列表 | 返回顶部
上一篇 : 贵金属元素分析仪在故障中如何处理    下一篇 :  选购X射线荧光光谱分析仪中X射线管需要的条件
网站首页 公司简介 产品中心 应用案例 技术支持 企业动态 联系我们
惠州市华高仪器设备有限公司主营ROHS检测光谱仪,ROHS无卤环保检测仪,贵金属元素分析仪
惠州市华高仪器设备有限公司 版权所有 总访问量:94319
地址:惠州市江北惠州大道9号佳兆业中心2座5层16号
GoogleSitemap 技术支持:化工仪器网 ICP备案号:粤ICP备15048988号
联系人: 范志华
点击这里给我发消息
 

化工仪器网

推荐收藏该企业网站