X射线荧光镀层测厚仪可以同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线，测量精度高、稳定性好，是测量镀层厚度的主要仪器。

      X射线荧光镀层测厚仪的工作原理是对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。因为是采用X射线进行检测，可以达到无损检测的效果。

      X射线荧光镀层测厚仪可以做到快速无损测量，测量耗时短，在10秒内就能得出测量结果，且测量结果度高，可至μin。