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 UX-720X射线荧光镀层测厚仪

UX-720X射线荧光镀层测厚仪

  • 更新日期:2024-05-24
  • 访问次数:926 

X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720:Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

  X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720华唯
  

   配置型号

探测器

X光管

高压电源

Ux-720 M

AMPTEK Si-PIN X-123(进口)

上海科颐维(国产)

咸阳威思曼(国产)

Ux-720 H

AMPTEK Si-PIN X-123(进口)

上海科颐维(国产)

spellman(进口)

Ux-720 S

AMPTEK SDD X-123(进口)

上海科颐维(国产)

spellman(进口)

 

  产品指标:
 
  测厚技术:X射线荧光测厚技术
 
  测试样品种类:金属镀层,合金镀层
 
  测量下限:0.003um
 
  测量上限:30-50um(以材料元素判定)
 
  测量层数:10层
 
  测量用时:30-120秒
 
  探测器类型:Si-PIN电制冷
 
  探测器分辨率:145eV
 
  高压范围:0-50Kv,50W
 
  X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
 
  光管靶材:Mo靶;
 
  滤光片:3种自动切换;
 
  CCD观察:260万像素
 
  微移动范围:XY15mm
 
  输入电压:AC220V,50/60Hz
 
  测试环境:非真空条件
 
  数据通讯:USB2.0模式
 
  准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
 
  软件方法:FlexFP-Mult
 
  工作区:开放工作区 自定义
 
  样品腔:330×360×100mm

 


 
  X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720产品介绍:
 
  Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。
 
  采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
 
  Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
 
  X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
 
  Ux-720镀层测厚仪采用了华唯技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
 
  样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
 
  设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
 
  软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
 
   Ux-720标准配件
 
  样品固定支架1支
 
  窗口支撑薄膜:100张
 
  保险管:3支
 
  计算机主机:品牌+双核
 
  显示屏:19吋液晶
 
  打印机:喷墨打印机
 
   Ux-720可选配件
 
  可升级为SDD探测器
 
  可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存
 
  X射线荧光镀层测厚仪是一种用于测量各种基材表面涂层的厚度、成分和均匀性的仪器。它通过向待测物体表面发射X射线,利用物体表面的涂层中被激发出的荧光信号来分析涂层的厚度和成分。该仪器广泛应用于材料科学、化工、制造业、质量检验等领域。
 
  X射线荧光镀层测厚仪的特点:
 
  1.非破坏性测试:该仪器是一种非破坏性测量方法,不会对被测物品造成任何损伤。
 
  2.测量精度高:能够测量非常薄的涂层厚度,精度可以达到0.1微米。
 
  3.测量速度快:能够在几秒钟内完成一次测量,非常适合在生产线上进行大量测量。
 
  4.可适用于多种材料:适用于多种材料的涂层测厚,例如金属、塑料和陶瓷等。
 
  5.可靠性高:采用先进的测量技术和设备,能够保证测量结果的准确性和可靠性。
 
  6.易于操作:操作简单,需要较短的培训时间,即可掌握测量技能。

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