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UX-720 X射线荧光镀层测厚仪

X射线荧光镀层测厚仪

  • 更新日期:2024-04-16
  • 访问次数:2320 

X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720:Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界*。 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

  X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720华唯
  

   配置型号

探测器

X光管

高压电源

Ux-720 M

AMPTEK Si-PIN X-123(进口)

上海科颐维(国产)

咸阳威思曼(国产)

Ux-720 H

AMPTEK Si-PIN X-123(进口)

上海科颐维(国产)

spellman(进口)

Ux-720 S

AMPTEK SDD X-123(进口)

上海科颐维(国产)

spellman(进口)

 

  产品指标:
 
  测厚技术:X射线荧光测厚技术
 
  测试样品种类:金属镀层,合金镀层
 
  测量下限:0.003um
 
  测量上限:30-50um(以材料元素判定)
 
  测量层数:10层
 
  测量用时:30-120秒
 
  探测器类型:Si-PIN电制冷
 
  探测器分辨率:145eV
 
  高压范围:0-50Kv,50W
 
  X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
 
  光管靶材:Mo靶;
 
  滤光片:3种自动切换;
 
  CCD观察:260万像素
 
  微移动范围:XY15mm
 
  输入电压:AC220V,50/60Hz
 
  测试环境:非真空条件
 
  数据通讯:USB2.0模式
 
  准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
 
  软件方法:FlexFP-Mult
 
  工作区:开放工作区 自定义
 
  样品腔:330×360×100mm
 
  X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720产品介绍:
 
  Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。
 
  采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
 
  Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
 
  X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
 
  Ux-720镀层测厚仪采用了华唯技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
 
  样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
 
  设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
 
  软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
 
   Ux-720标准配件
 
  样品固定支架1支
 
  窗口支撑薄膜:100张
 
  保险管:3支
 
  计算机主机:品牌+双核
 
  显示屏:19吋液晶
 
  打印机:喷墨打印机
 
   Ux-720可选配件
 
  可升级为SDD探测器
 
  可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存
 

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