X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720：Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界*。 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

X射线荧光镀层测厚仪测量元素范围：钛Ti22---铀U92； 测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线； 测量精度高、稳定性好，测量结果*确至μin； 快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果； 可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析； 进行贵金属检测。

日本岛津超声波光学金属表面探伤仪 岛津的光学成像技术，将超声波振子和频闪观测器相结合，在试样表面使用超声波振荡器振动，表面因超声波传输受到的微小位移用激光照射和光学相机实现可视化，从而根据超声波的间断来检测出缺陷。超声波光学探伤装置MIV-X可以使传统超声检测难以发现的内部缺陷可视化。

X射线荧光镀层测厚仪 Ux-720：Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界。 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

TREK重锤式表面电阻测试仪 无损检测仪 Trek-152-1 表面电阻测试仪是用来测量各种传导、损耗、绝缘的面电阻

X射线荧光镀层测厚仪品牌：本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量，Ux-700更专业小样品测试腔的设计，带有聚焦光点的准直器，高分辨率的探测系统，众多Z佳条件的选择，保证测试结果的准确性。X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。