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JSM-IT800 日本电子热场发射扫描电子显微镜

日本电子热场发射扫描电子显微镜

  • 更新日期:2024-04-16
  • 访问次数:1798 

日本电子热场发射扫描电子显微镜
适用于纳米材料、化学、新材料、半导体器件的观察和分析。

 

产品货期&价格请与客服咨询为准!谢谢产品展示

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undefined日本电子热场发射扫描电子显微镜
产品说明

 

日本电子热场发射扫描电子显微镜

JSM-IT800 整合了我们用于从高分辨率成像到快速元素分析的“浸没式肖特基 Plus 场发射电子枪"、创新的电子光学控制系统“Neo Engine"以及无缝 GUI 系统“SEM Center",该系统采用一体化 JEOL X 射线能量色散谱仪 (EDS) 作为通用平台,进行快速元素分析。

 

JSM-IT800 允许物镜作为一个更换模块,提供不同的版本以满足各种用户需求。JSM-IT800 有五种版本,提供不同的物镜:混合型物镜 (HL),这是一种通用 FE-SEM;超级混合物镜(SHL/SHLs,具有不同功能的两种版本),可实现更高分辨率的观察和分析;以及新开发的半浸没式物镜(i/is,具有不同功能的版本),适用于纳米材料、化学、新材料、半导体器件的观察和分析。

 

此外,JSM-IT800 还可以配备新型闪烁体背散射电子探测器 (SBED) 和多功能背散射电子探测器 (VBED)。SBED 支持以高响应性获取图像,即使在低加速电压下也能产生清晰的成分衬度,而 VBED 可以帮助获取 3D、形貌和成分衬度的图像。因此,JSM-IT800 可以帮助用户获取丰富多样德 信息并解决测量中的问题。

 



技术参数

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主要的选配件

  • 高位电子检测器 (UED)

  • 背散射电子检测器 (BED)

  • 闪烁体背散射电子检测器(SBED)

  • 多用途背散射电子检测器(VBED)

  • 透射电子检测器(TED)

  • 低真空 (含低真空背散射电子检测器LVBED)

  • 低真空二次电子检测器 (LVSED)

  • 电子背散射衍射 (EBSD)

  • 波谱仪 (WDS)

  • 软X射线分光器 (SXES)

  • 探针电流检测器

  • 样品台导航系统

  • 样品室相机

  • 操作桌

  • 操作面板

  • LIVE-AI过滤器ー

  • SMILE VIEW™ Map


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