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 X射线荧光镀层测厚仪品牌

X射线荧光镀层测厚仪品牌

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X射线荧光镀层测厚仪品牌:本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量,Ux-700更专业小样品测试腔的设计,带有聚焦光点的准直器,高分辨率的探测系统,众多Z佳条件的选择,保证测试结果的准确性。X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

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X射线荧光镀层测厚仪品牌

   配置型号

探测器

X光管

高压电源

Ux-700 M

AMPTEK Si-PIN X-123(进口)

上海科颐维(国产)

咸阳威思曼(国产)

Ux-700 H

AMPTEK Si-PIN X-123(进口)

上海科颐维(国产)

spellman(进口)

Ux-700 S

AMPTEK SDD X-123(进口)

上海科颐维(国产)

spellman(进口

X射线荧光镀层测厚仪品牌

UX-700产品指标:

测厚技术:X射线荧光测厚技术

测试样品种类:金属镀层,合金镀层

测量下限:0.003um

测量上限:30-50um(以材料元素判定)

测量层数:10层

测量用时:30-120秒

探测器类型:Si-PIN电制冷   

探测器分辨率:149eV

高压范围:5-50Kv,50W

X光管参数:5-50Kv,50W,侧窗类;

光管靶材:Mo靶;

滤光片:专用镀层滤光片

CCD观察:260万像素

微移动范围:XY15mm

输入电压:AC220V,50/60Hz

测试环境:非真空条件

数据通讯:USB2.0模式

准直器:Ø0.5mm

软件方法:FlexFP-Mult

工作区:开放工作区 自定义

样品腔:70*20mm

整机重量:38kg

 

UX-700产品介绍:

    本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量,Ux-700更专业小样品测试腔的设计,带有聚焦光点的准直器,高分辨率的探测系统,众多条件的选择,保证测试结果的准确性。

    X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

    Ux-700镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台,可以通过鼠标的点击操作,选择样品的多点测试,特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。

    Ux-700镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备,测试样品的部位清楚明了,同时摄像设备拍抓测试部位的图片,和测试数据结果一同出现在测试报告中。

    Ux-700镀层测厚仪采用了华唯技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。

 

UX-700 镀层测厚方法:

1.磁性涂层测厚法

    使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度,如铁上镀铜、锌、铬、金、银等,涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。

2.涡流层层测厚法

    可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度,如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度

3.X射线荧光法

    所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试,同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。

 

常用单位:

微米(um),微英寸(u‘’)俗语“迈”,密耳(mil)

1um=39.4迈, 1um=0.04mil

 

 

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