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UX-720 华唯镀层厚度检测仪

华唯镀层厚度检测仪

  • 型   号:UX-720
  • 价   格:

华唯镀层厚度检测仪
Ux-720镀层厚度检测仪采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

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华唯镀层厚度检测仪 UX-720

   配置型号    探测器    X光管    高压电源    
Ux-720 M    AMPTEK Si-PIN X-123(进口)    上海科颐维(国产)    咸阳威思曼(国产)    
Ux-720 H    AMPTEK Si-PIN X-123(进口)    上海科颐维(国产)    spellman(进口)    
Ux-720 S    AMPTEK SDD X-123(进口)    上海科颐维(国产)    spellman(进口)

镀层厚度检测仪产品介绍:
    Ux-720新一代国产专业,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。
    采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
    Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
    X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
    Ux-720镀层测厚仪采用了华唯技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
    样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
    设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
    软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
 
产品指标:
测厚技术:X射线荧光测厚技术
测试样品种类:金属镀层,合金镀层
测量下限:0.003um
测量上限:30-50um(以材料元素判定)
测量层数:10层
测量用时:30-120秒
探测器类型:Si-PIN电制冷   
探测器分辨率:145eV
高压范围:0-50Kv,50W
X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
滤光片:专用3种自动切换;
CCD观察:260万像素
微移动范围:XY15mm
输入电压:AC220V,50/60Hz
测试环境:非真空条件
数据通讯:USB2.0模式
准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
软件方法:FlexFP-Mult
工作区:开放工作区 自定义
样品腔:330×360×100mm
 
标准配件
样品固定支架1支
窗口支撑薄膜:100张
保险管:3支
计算机主机:品牌+双核
显示屏:19吋液晶
打印机:喷墨打印机
 
可选配件
可升级为SDD探测器
    可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存

华唯镀层厚度检测仪

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