UX-700 镀层厚度检测仪 华唯

• 更新日期：2024-04-16
• 访问次数：1461 

UX-700 镀层厚度检测仪 华唯
配置型号探测器X光管高压电源
Ux-700 MAMPTEK Si-PIN X-123（进口）上海科颐维（国产）咸阳威思曼（国产）
Ux-700 HAMPTEK Si-PIN X-123（进口）上海科颐维（国产）spellman（进口）
Ux-700 SAMPTEK SDD X-123（进口）上海科颐维（国产）

订购留言

UX-700 镀层厚度检测仪 华唯
 

   配置型号    探测器    X光管    高压电源    
Ux-700 M    AMPTEK Si-PIN X-123(进口)    上海科颐维（国产）    咸阳威思曼(国产)    
Ux-700 H    AMPTEK Si-PIN X-123(进口)    上海科颐维（国产）    spellman(进口)    
Ux-700 S    AMPTEK SDD X-123(进口)    上海科颐维（国产）    spellman(进口 

产品介绍：
    本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量，Ux-700更专业小样品测试腔的设计，带有聚焦光点的准直器，高分辨率的探测系统，众多*条件的选择，保证测试结果的准确性。
    X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
    Ux-700镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台，可以通过鼠标的点击操作，选择样品的多点测试，特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。
    Ux-700镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备，测试样品的部位清楚明了，同时摄像设备拍抓测试部位的图片，和测试数据结果一同出现在测试报告中。
    Ux-700镀层测厚仪采用了华唯技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。
 
产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷   
探测器分辨率：149eV
高压范围：5-50Kv，50W
X光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：镀层滤光片
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：Ø0.5mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义
样品腔：70*20mm
整机重量：38kg
 
镀层测厚方法：
1.磁性涂层测厚法
    使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度，如铁上镀铜、锌、铬、金、银等，涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。
2.涡流层层测厚法
    可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度，如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度
3.X射线荧光法
    所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试，同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。
 
常用单位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗语“迈”，密耳（mil）
1um=39.4迈， 1um=0.04mil

UX-700 镀层厚度检测仪 华唯