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EDX-GP 能量色散型X射线荧光分析装置日本岛津

能量色散型X射线荧光分析装置日本岛津

  • 型   号:EDX-GP
  • 价   格:

能量色散型X射线荧光分析装置日本岛津
次使用,也能轻松操作,操作简便且以更高的精度进行微量分析,达到Z高灵敏度与Z佳分辨率的*结合。

  标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,使可以获得Z佳RoHS/ELV/无卤素分析系统

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能量色散型X射线荧光分析装置日本岛津 

EDX-GP 能量色散型X射线荧光分析装置
 
 
 

EDX-GP  能量色散型X射线荧光分析装置 本岛

产品信息:

*次使用,也能轻松操作,操作简便且以更高的精度进行微量分析,达到zui高灵敏度与zui佳分辨率的*结合。 

  标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,使可以获得zui佳RoHS/ELV/无卤素分析系统 。 

 

SET 1

操作简便,一个指令即可开始全自动测定。 

测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断,现在改由装置自动判断,即使初学者也可简便·高精度地测定。 

 

 

 

 SET 2

放置样品

 ●

将样品放在分析位置,利用样品图像观察装置确认分析位置。

 ●

选择分析区域。

 ●

关闭样品室。

 

 

 

 

 

 

选择分析条件/输入样品名称

 ●

一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。

 ●

点击开始。

 

SET 3

 

 

 

能量色散型X射线荧光分析装置日本岛津 

 显示分析结果

 ●

测定结束后,画面上将清楚显示5种元素的[合格判定]、[含量]、[3σ(测定偏差)]。

点击即可显示[结果列表]或[创建报告书]。

 

 

 

 

 

只需1次点击,便可根据预先登录的分析条件, 

自动执行从测定到结果的一系列操作。 

 

 

 

■ 校准曲线自动选择功能

 

 

 

不含有害元素时,测定过程中能够判定结果时,即自动终止测定,缩短分析时间。

 

 

■ 省时功能

 

 

不含有害元素时 

不含有害元素时,测定过程中能够判定结果时,即自动终止测定,缩短分析时间。

 ■ 适用省时功能的缩短时间示例

 

含量低于检出下限值时,判断不含有,测定自动结束。上述样品中Pb、Cd的含量均低于检出下限,与设定的200秒(=100秒+100秒)分析时间相比,仅用了50秒(=25秒+25秒)即结束分析,大幅度节约了时间。 

 

 有害元素含量高时

由设定的目标管理精度自动决定测定时间。 

在测定精度达到管理值时结束测定。 

■ 适用省时功能的缩短时间示例

测定高浓度元素时,在比设定的测定时间更短的时间内即可获得高强度,而且误差变小,由此可以大幅缩短时间。上述样品中Pb:7600ppm、Cd:52ppm,设定的分析时间为200秒(=100秒+100秒),实际仅用了40秒(=15秒+25秒)即结束分析,大幅度节约了时间。 

 

 

 

本装置配置了RoHS/ELV检测中市场占有率zui高的EDX-720型的半导体检测器、专用滤光片及高计数率电路。

 

 

 

 

 

 

为什么需要高灵敏度?

能够测定更微量的元素。 测定时间更短,因此相同时间内测定数量更多。 

 

 

■卤素系列阻燃剂中微量Cd

 〔keV〕

 

  

 

 为什么需要高分辨率?

可以减轻目标元素附近的其他共存元素的重叠影响。 

 

 

■ 卤素系列阻燃剂中微量Pb

〔keV〕

 

  

 

 为什么需要高精度?

在IEC提出的合格判定中,分析装置的重现性对判定结果有很大的影响,重现性越好(即测定精度越高),合格判定的准确度就越高。 

 

 

 

 

 

 

 

 

利用专用滤光片提高灵敏度/还可以进行高灵敏度的无卤素分析

标准配备了5种滤光片,可降低、除去形成背景成分的X射线管的散射线,提高检测灵敏度。 本装置在RoHS/ELV/无卤素分析中会自动选择3种zui合适的滤光片,进行高灵敏度测定。 

 

 

受X射线管Rh的特征X射线影响的Cl也可以测定

 微量成分:Cl(除去特征X射线)

 利用滤光片提高检测灵敏度 

微量成分:Pb(背景降低) 

 

 

 滤光片条件灵活,满足客户要求 

如果您希望在短时间内对多个样品进行测定,推荐使用单个滤光片进行高速分析。

 

 

<由单个滤光片进行高速分析> 测定时间:100秒 

 

 如果您希望对微量元素进行高灵敏测定,可以选择各种专用滤光片进行高灵敏度分析。 

与单个滤光片高速分析相比,灵敏度约提高2~3倍。 

 

 

<由专用滤光片进行高灵敏度分析>

测定时间:300秒(100秒×3通道) 

 

 

 

 

EDX-GP标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,就可以获得zui佳RoHS/ELV/无卤素分析系统。

 

标准配置改变照射直径的准直器&样品图像观察组件

测定异物或者测定包含多个部位的样品时,通过样品图像观察组件在观察样品的同时,可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时,可以使用准直器,更改X射线照射区域。

(1, 3, 5, 10 mmφ)

10mmφ图像(塑胶)

 

3mmφ(金属)

  

 

 形状校正功能 

即使含量相同的样品,在形状和厚度不同时,X射线强度将发生变化,得到的定量值也会受到影响,EDX-GP通过使用BG内标法*,可以排除形状和厚度的影响,取得高精度结果。 

 

BG内标法 

通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。 

 

 

  

 测定结果列表管理

创建列表功能

已保存数据可以用Excel形式列表显示。

 

 

超大样品室可以对应各种样品形态及大小。

 

采用超大样品室 

zui大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品,令紧凑型机身望尘莫及。

 

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