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技术支持

XRF镀层测厚仪的原理是什么?
发布时间:2019-01-21   点击次数:754次

惠州市华高仪器设备镀层测厚仪

1、原理:X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。
2、XRF镀层测厚仪
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能:精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围:测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。

物质受原级X射线或其他光子源照射,受激产生次级X射线的现象。

它只包含特征X射线,没有连续X射线。分别以原级、一级、二级X射线激发,可产生一级、二级、三级X射线荧光。

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