返回首页 在线留言 联系我们

产品目录

联系方式

惠州市华高仪器设备有限公司
联系人:范志华
电话/传真:0752-7168848
地址:惠州市江北惠州大道9号佳兆业中心2座5层16号
邮编:516003
邮箱:1553572724@qq.com
首页 > 技术支持 > X射线镀层测厚仪的工作原理

技术支持

X射线镀层测厚仪的工作原理
发布时间:2017-09-12   点击次数:1425次
  X射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。
  X射线镀层测厚仪的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法, 射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
 X射线镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

分享到:

返回列表 | 返回顶部
上一篇 : 浊度计使用注意事项    下一篇 :  原子吸收分光光度计的主要应用领域
网站首页 公司简介 产品中心 应用案例 技术支持 企业动态 联系我们
惠州市华高仪器设备有限公司主营ROHS检测光谱仪,ROHS无卤环保检测仪,贵金属元素分析仪
惠州市华高仪器设备有限公司 版权所有 总访问量:90345
地址:惠州市江北惠州大道9号佳兆业中心2座5层16号
GoogleSitemap 技术支持:化工仪器网 ICP备案号:粤ICP备15048988号
联系人: 范志华
点击这里给我发消息
 

化工仪器网

推荐收藏该企业网站